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O minicurso conta com os apoios:
Comissão Organizadora:
Fabio Furlan Ferreira. CCNH - UFABC (SP)
Renato Figueira da Silva. Bruker do Brasil - Atibaia (SP)
e-mail para contato:
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Comissão Didática:
Fabio Furlan Ferreira. Centro de Ciências Naturais e Humanas - UFABC (SP)
Roosevelt Droppa Junior. Centro de Ciências Naturais e Humanas - UFABC (SP)
Renato Figueira da Silva. Bruker do Brasil - Atibaia (SP)
Vera Lúcia Mazzocchi. IPEN. São Paulo (SP)
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INSTRUTORES
Fabio Furlan Ferreira. É Professor Associado da Universidade Federal do (UFABC) lotado no Centro de Ciências Naturais e Humanas (CCNH). Foi o Físico responsável pela Linha de Difração de Raios X em Policristais (D10B-XPD) do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS) de 2003 a 2009. Tem experiência na área de Física, com ênfase em Cristalografia e em Física da Matéria Condensada, atuando principalmente nos seguintes temas: caracterização estrutural de materiais através do uso da difração de raios X por policristais e do método de Rietveld (fármacos, materiais com expansão térmica negativa, células a combustível de estado sólido, materiais de intercalação, dentre outros), determinação de estruturas cristalinas através de métodos de espaço direto (simulated annealing, parallel tempering, etc.), estudo de propriedades estruturais de materiais submetidos a altas pressões. Tem publicado e realizado palestras mostrando potencialidades do Método de Rietveld e aplicações, juntamente com os outros instrutores deste curso e também na UFABC. Publicou 68 artigos em periódicos especializados, a maioria envolvendo difração de raios X .É membro do ICDD (International Centre for Diffraction Data), a qual é responsável pela distribuição das bases de dados PDF-2 e PDF-4, da International Union of Crystallography, sócio efetivo da Associação Brasileira de Cristalografia, da Sociedade Brasileira de Física e da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
Roosevelt Droppa Junior:
Renato Figueira da Silva:
MONITORIA
Isadora Tairinne de Sena Bastos.
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O método de Rietveld é amplamente reconhecido como uma ferramenta poderosa para análises estruturais para quase todos os materiais cristalinos não disponíveis na forma monocristalina. Estudos da estrutura de fármacos, supercondutores, materiais magnéticos, zeólitas, etc., são representativos das centenas de aplicações importantes do método de Rietveld, tanto com dados de difração de raios X quanto difração de nêutrons. O método de Rietveld tem se firmado como uma ferramenta poderosa em análise quantitativa de fases e tem sido extensivamente utilizadao nas áreas de ciência dos materiais, geologia e, recentemente, fármacos e polimorfos.
Nesse evento, haverá um conjunto de palestras, em momentos oportunos, para fornecer o mínimo de informação necessária para o acompanhamento dos tutoriais. Os participantes ficarão livres para realizar os exercícios da aula com seus próprios dados e seus próprios problemas. Para os iniciantes, recomendamos os exercícios do curso, um vez que eles foram elaborados de forma a fixar os conceitos do método de Rietveld visando a independência do usuário em aplicações posteriores. Para os que preferirem trazer seus próprios problemas para usar nos tutoriais, devem levar em conta que os instrutores provavelmente não terão tempo de discutir os resultados de cada um, uma vez que deverão atender a todos os participantes igualmente.
O curso irá lidar com os princípios e técnicas do método de Rietveld, e com os meios de evitar ou superar problemas que surgem durante o seu uso. Os alunos que fizerem uso dos dados fornecidos pelos instrutores, irão realizar refinamentos usando dados de difração de raios X convencional, síncrotron e nêutrons.
Casos com difração de raios X convencional envolverão até 3 fases. Com síncrotron, serão até duas fases. Um certificado de conclusão será fornecido aos participantes.
O curso se destina a alunos de mestrado, doutorado, profissionais de indústria de mineração, cimento, fármacos, pesquisadores, etc., que tenham interesse em análises estruturais e/ou quantitativa de fases. Serão considerados casos com alargamento anisotrópico, causados pela forma anisotrópica dos cristalitos ou pela anisotropia da microdeformação. Os alunos receberão um pen drive com os programas, manual e dados a serem usados.
Se o número de inscritos for menor que 10, o curso não será realizado.
As vagas serão preenchidas de acordo com a chegada das inscrições.
Transporte, hospedagem e alimentação ficarão a cargo dos alunos. Sugestões de hotéis em Santo André poderão ser fornecidas, se requisitadas. Sugerimos consultar sites especializados em reservas tais como Booking.com e Trivago para a escolha e reserva de hotéis.
O curso conta com o apoio da Bruker do Brasil e será realizado com o uso do software Topas, da Bruker.
Para obter informações sobre hotéis em Santo André acesse http://maps.google.com.
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Laboratório de Cristalografia e Caracterização Estrutural de Materiais.
LCCEM/CCNH/UFABC - Av. dos Estados, 5001, bairro Santa Terezinha, Santo André, SP, CEP: 09210-580, Brasil.