Mini Curso de Cristalografia Básica e de Método de Rietveld: 12 a 16 de setembro de 2016

 

INSTRUTORES   Retornar


Carlos de Oliveira Paiva Santos. É professor de Física no Instituto de Química da Universidade Estadual Paulista em Araraquara. Trabalha desde 1987 com o método de Rietveld e desde 1994 é co-autor do programa da série ‘DBWS...’, de refinamento de estruturas pelo método de Rietveld (descontinuado desde 2003), largamente utilizado em todo o mundo. Desde 1996 ministrou 24 cursos de extensão universitária relacionados a policristais, sendo a maioria sobre o método de Rietveld. Ministra regularmente cursos de pós-graduação de cristalografia de policristais e método de Rietveld, na pós-graduação do Instituto de Química - UNESP, Araraquara (SP). Tem publicado e realizado palestras mostrando potencialidades do MR e aplicações. Concluiu o doutorado em 1990 realizando análises estruturais e quantitativas de fases com o uso do método de Rietveld. Em 1988 apresentou, no XI Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, juntamente com a Profa. Y. P. Mascarenhas, o seu primeiro trabalho com o MR, onde foi realizado a análise quantitativa de fases em cerâmicas PZT. Orientou ou co-orientou 8 dissertações de mestrado e 11 teses de doutorado, em que o método de Rietveld foi aplicado. Publicou 110 artigos em periódicos especializados, sendo que 105 deles foram sobre policristais. Recentemente voltou seus estudos para a área de fármacos, em que orienta uma dissertação de mestrado e três alunos de iniciação científica, visando a aplicação do método de Rietveld na caracterização de fármacos e seus polimorfos. Uma tese de doutorado já foi concluída. Atualmente tem se dedicado a escrever um livro sobre aplicações da difração de raios X na área de fármacos, juntamente com a Dra. Selma Gutierrez Antonio.


Fabio Furlan Ferreira. É Professor Adjunto da Universidade Federal do (UFABC) lotado no Centro de Ciências Naturais e Humanas (CCNH). Foi o Físico responsável pela Linha de Difração de Raios X em Policristais (D10B-XPD) do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS) de 2003 a 2009. Tem experiência na área de Física, com ênfase em Cristalografia e em Física da Matéria Condensada, atuando principalmente nos seguintes temas: caracterização estrutural de materiais através do uso da difração de raios X por policristais e do método de Rietveld (fármacos, materiais com expansão térmica negativa, células a combustível de estado sólido, materiais de intercalação, dentre outros), determinação de estruturas cristalinas através de métodos de espaço direto (simulated annealing, parallel tempering, etc.), estudo de propriedades estruturais de materiais submetidos a altas pressões, materiais eletrocrômicos a base de Au/NiO. Tem publicado e realizado palestras mostrando potencialidades do Método de Rietveld e aplicações, juntamente com os outros instrutores deste curso e também na UFABC. É membro do ICDD (International Centre for Diffraction Data), a qual é responsável pela distribuição das bases de dados PDF-2 e PDF-4, da International Union of Crystallography, sócio efetivo da Associação Brasileira de Cristalografia e da Sociedade Brasileira de Física.


Flávio Machado de Sousa Carvalho: Responsável pelo Laboratório de difração de raios X do Instituto de Geociências da USP. Trabalha com o método de Rietveld desde 1992 e participou, como instrutor, de muitos cursos sobre o método, organizados pelo LabCACC/FACTE desde 1998. Concluiu o mestrado e o doutorado caracterizando minerais, sendo que o método de Rietveld foi uma das ferramentas usadas nos trabalhos. Foi o primeiro, no Brasil, a trabalhar com o método de Rietveld na área de Geologia.


Selma Gutierrez Antonio: Trabalha com o método de Rietveld desde 1999, quando iniciou a iniciação científica no Instituto de Química da UNESP, sob a orientação do Prof. Dr. Carlos O. Paiva-Santos. Em seu trabalho de mestrado sintetizou compostos de estrutura espinélios pela rota de combustão, e os caracterizou usando raios X de anodo de cobre e de síncrotron, esse último devido ao contraste causado pelo espalhamento ressonante. Um exemplo do tutorial (espinélio) foi retirado de sua dissertação. Em seu trabalho de doutorado realizou análises de fármacos (matérias primas e comprimidos), usando o método de Rietveld, de Pawley e de Le bail. Desde o ano 2000 tem auxiliado nos cursos de método de Rietveld ministrados pelo LabCACC, além de ministrar aulas particulares de método de Rietveld para profissionais de indústrias. Atualmente tem se dedicado a escrever um livro sobre aplicações da difração de raios X na área de fármacos, juntamente com o Prof. Dr. Carlos de Oliveira Paiva Santos.


Vera Lucia Mazzocchi: Bacharel e Licenciada em Física pela Pontifícia Universidade Católica de São Paulo (1981); Bolsista MS-I e MS-II FAPESP de agosto de 1982 a setembro de 1984; Mestre em Tecnologia Nuclear (1984) e Doutora em Tecnologia Nuclear pela Universidade de São Paulo (1992), junto ao Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-CNEN/SP). Bolsista de Produtividade em Pesquisa do CNPq - Nível 2 de agosto de 1994 a julho de 1996 e de março de 1997 a fevereiro de 1999. Atualmente é Pesquisadora Ttitular neste instituto e responsável pelo Laboratório de Difratometria de Nêutrons do IPEN. Tem experiência em Cristalografia aplicada à área de Engenharia de Materiais e Metalúrgica, com ênfase em Estrutura dos Metais e Ligas, atuando principalmente nos seguintes temas: difração múltipla, difração de nêutrons, textura cristalina, análise quantitativa de fases por Rietveld e estruturas magnéticas.


 

 

MONITORES   Retornar

 

Fanny Nascimento Costa e Juliana Pereira Alves Sato.

Pós-doutorandas da Universidade Federal do ABC, que possuem experiência necessária para servir de elo entre os participantes e os instrutores. Todas estão capacitadas para sanar dúvidas básicas dos participantes durante o curso.